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SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
发布时间：2021年04月01日 浏览数：17 文章出自：北测可靠性实验室
基于低频噪声参数的电子元器件可靠性无损检测标准体系架构分为两个系列：
（1）电子元器件低频噪声参数测试方法；
（2）基于低频噪声参数的电子元器件可靠性无损检测评价方法。
电子元器件低频噪声参数测试方法是制定基于低频噪声参数的电子元器件可靠性无损评价方法的基础。根据电子元器件低频噪声检测方法的原理和应用需求，同时为了便于开展标准指定和应用工作，电子元器件噪声参数测试方法的标准系列包括：电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求和具体电子元器件的低频噪声参数测试方法，后者包括但不限于：《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》、《晶体管低频噪声参数测试方法》、《二极管低频噪声参数测试方法》、《电阻器低频噪声参数测试力法》等。
本标准位于标准体系的第一个系列，对低频噪声参数测试的名词术语、测试环境及条件、测试系统的构成及要求、测试程序等提出通用要求，可以为指定本标准体系内具体电子元器件的低频噪声参数测试方法标准和开展其他类型电子元器件低频噪声参数测试提供指导和参考。
◆ 中文标准名称：电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
◆ 适用范围：适用于电子元器件1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数测试
◆ 标准号：SJ/T 11769-2020
◆ 发布日期：2020-12-09
◆ 实施日期：2021-04-01
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