推荐阅读 news
热门标签 Hot Tags
光照老化试验
发布时间:2022年05月10日 浏览数:6 文章出自:北测实验室
材料在室外使用时,长期暴露在日光或玻璃过滤后的日光下,而光、热、湿和其他气候应力将对材料的颜色和性能产生较大的影响,因此评估光、热、湿和其他气候应力对材料性能的影响变得尤为重要。
(1)、光照——阳光中紫外线是造成产品光降解和光老化的主要原因,这是因为波长越短,能量越高,穿透能力也越强。而在太阳光谱中(如下图),紫外线恰好是属于波长较短的波。
(2)、热——当温度升高时,光的破坏作用也将随之增大,尽管温度不影响主要的光致化学反应,但却影响后续的化学反应,实验室常通过升温的方法来加速老化。
(3)、潮湿——对于室外使用的材料,在夏天暴晒的同时,也常遇到暴雨,使材料表面温度骤降,造成热冲击,导致应力腐蚀,而露水对材料造成的危害往往比雨水更大,因为它附着在材料上的时间更长,形成更为严重的潮湿吸收。
这三个因素中的任何一个都将导致材料老化,而在材料实际使用环境中三者或者更多环境应力往往同时发生,对材料造成的危害大于任何一种因素单独作用时产生的危害。因此为了评估产品在实际使用过程中的寿命,通常采用特定实验室光源加速老化试验来评估光、热、湿度对材料物理、化学和其他性能的影响,从而保证产品的质量。
紫外老化试验主要包括光照、冷凝和喷淋三种模式。光照阶段用于模拟自然环境中的白天,光照时可以控制光照强度、温度;冷凝阶段用于模拟夜晚样品表面结露的现象,冷凝阶段关闭紫外灯(黑暗状态),只控制试验温度;喷淋阶段通过向样品表面持续喷水模拟下雨的环境。
常见UV灯管类型有3种,分别为UVA-340,UVA351和UVB313,所有灯管发出的光均为紫外光,但其光谱分布和发出光的总能量不同,因此在试验时应根据实际情况选择合适的灯管进行模拟试验。
UVA-340灯管的光谱分布和户外太阳光的紫外波段相近,一般用于常规户外使用产品的光老化试验;
UVA-351灯管可以模拟透过玻璃窗户的太阳光的紫外线部分,主要用于室内产品的老化;
UVB-313灯管能产生短波紫外线,能够比UVA灯更快地使材料老化,从而达到加速老化的目的,广泛应用于耐久性材料的快速、节省时间的测试。
了解相关详情或检测认证咨询,请点击☞在线咨询☜,或拨打☞13923764905☜咨询工程师
相关问答 more +
NTEK北测10米法电波暗室投入运营
北测检测新增10米法电波暗室,进一步提升了电磁兼容(EMC)检测能力。其主要特点包括高效电磁屏蔽、宽频带支持、精准测试以及符合国际标准。通过提供实验室和现场测试服务,解决了超大型或固定式样品的检测难题,确保设备不产生过多电磁干扰或能有效抵御外部电磁干扰。实验室配备了强大的电源和负载能力,满足各种行业的EMC检测需求,适用于消费电子、汽车电子、工业设备以及航空航天和军事领域等多个应用场景。
北测车载摄像头测试能力介绍(一)
车载摄像头在智能驾驶中扮演重要角色,功能涵盖倒车影像、变道辅助、智能驾驶等。根据安装位置和功能,摄像头分为前视、后视、环视、侧视和车内监控。自动驾驶依赖摄像头捕捉周围环境图像,辅助决策系统识别物体。光学性能测试,如MTF值和SFR值,衡量摄像头的成像质量,确保其在不同环境下的可靠性。所有测试遵循QC/T 1128-2019标准,涵盖图像性能、电气特性和环境可靠性等方面。
新能源汽车电机及控制器测试概述
新能源汽车电机及控制器电气性能测试、可靠性试验、EMC测试项目及条件,测试标准,电动汽车用电机及其控制器的测试遵循国家标准《GB-T18488电动汽车用电机及其控制器》。
新能源汽车线束测试:项目与标准概述
新能源汽车线束测试项目包括:外观尺寸检测、电性能测试、机械性能测试、环境应力试验、清洁度测试、线束连接导线与接插件的连接电阻和阻抗测试、电磁兼容性 (EMC) 测试,测试标准包括:EIA-364系列标准、QC/T 1067.1、QC/T 29106等
北测集团雷击防护测试能力介绍
北测集团拥有国内较完备的雷电防护测试能力,可测试200kA以下的8/20µs冲击电流,150kA以下的10/350µs冲击电流,445A以下的10/1000µs冲击电流;15KV以下的1.2/50µs冲击电压,6.3kV以下的10/700µs冲击电压;15KV以下的1.2/50&8/20组合波,11KV以下的10/700&5/350组合波。北测集团还拥有高压直击雷模拟试验系统和雷电
北测集团元器件低频噪声测试能力介绍
低频噪声是电子元器件在低频段频率范围内的电噪声(电子元器件内部的载流子随机运动引起的电压或电流的涨落),频率范围一般在1Hz~300kHz。电子器件的低频噪声是表征电子元器件质量和可靠性的敏感参数,制约着整机检验灵敏度、噪声大小以及保真度、误触发率、分辨率等指标,由于低频噪声与元器件材料内部的导电微粒的不连续性,以及半导体的掺杂浓度等工艺有关,在噪声中包含大量器件物理特性信息,通过噪声测试分析能得