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HALT试验(高加速寿命试验)

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HAST老化测试广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

应用范围

  • 家电领域

    冰箱、洗衣机、空调、微波炉等主控板,电视机、显示器 等

  • 通讯领域

    手机、小型电脑、路由器、遥控器、基站设备 等

  • 汽车领域

    车载多媒体(导航、行车记录仪、车载音箱、功放等),行车控制器、各类传感器等各类汽车零部件

  • 轨道交通领域

    轨交通信系统、轨交制动系统、轨交电控系统 等

  • 光伏太阳能领域

    逆变器、电源 等

  • 医疗领域

    激光手术设备、医疗监测设备 等

  • 军工领域航天设备

    舰载空调、军用通信系统 等

  • 其他

    电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件、汽车电子电气零部件 等

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实验目的

在HALT试验中可找到被测物在温度及振动应力下的可操作界限与破坏界限;为开发人员改进产品设计方案提供依据,以对产品设计缺陷进行及时的修正;并为HASS的应力类型和应力量级的选择提供依据。

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HALT试验主要测试功能如下:

  • 1. 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;
  • 2. 了解产品的设计能力及失效模式;
  • 3. 作为高应力筛选及稽核规格制定的参考;
  • 4. 增加产品的可靠性,减少维修成本;
  • 5. 建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并可缩短设计制造周期。
  • HALT应用于产品的研发阶段,能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输、贮藏、使用时的应力。
  • HALT包含的如下内容:

  • 1)逐步施加应力直到产品失效或出现故障;
  • 2)采取临时措施,修正产品的失效或故障;
  • 3)继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;
  • 4)重复以上应力-失效-修正的步骤;找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。
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HALT测试步骤

  • 1. 低温步进应力测试 - 找出产品的低温操作界限温度值;
  • 2. 高温步进应力测试 - 找出产品的高温操作界限温度值;
  • 3. 冷热冲击 - 通常取低温和高温的操作限的80%值进行5次循环温度冲击;
  • 4. 振动步进应力测试 - 找出产品振动操作界限G值;
  • 5. 温度与振动综合应力 - 通常取80%温度操作限,50%振动操作限;
  • 除此之外,有时也会加上电压拉偏等,视具体产品而定。
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北测优势

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